掃描電子顯微鏡(SEM)
更新:2017-7-9 21:53:01 點(diǎn)擊:
- 產(chǎn)品品牌 日本電子
- 產(chǎn)品型號(hào)
- 產(chǎn)品描述
掃描電子顯微鏡(SEM)...
產(chǎn)品介紹
掃描電子顯微鏡利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)。可以直觀的觀測(cè)到微觀顆粒的表面形貌特征。
分辨率:
1.0nm (二次電子,加速電壓:15kV)
1.3nm (二次電子,加速電壓:1kV)突出的低壓分辨率
1.5nm (背散射電子,.加速電壓:30kV)突出的背散射技術(shù)
常規(guī)拓展,如安裝能譜進(jìn)行微區(qū)元素分析等。
旭陽(yáng)合作品牌:日本電子
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